C. 軽イオン関係
1. その場光伝導・粒子線誘起電気伝導測定システム
本装置は運転時には材料研究所のサイクロトロン加速器のビームラインに接続されます。試料温度をマイナス253℃～プラス180℃の範囲で設定でき、安定した試料温度（±１℃）の下、17 MeV水素イオン等の高エネルギー軽イオン照射を行うことができます。さらに、照射直下及び照射直後の照射誘起電気伝導現象や光伝導をその場で測定することができます。照射時は強力な２次放射線のため、本装置に人間は近づくことができず、装置の制御・測定は全て、遠隔操作で行われます。 図の中央部の円筒形の箱が試料チャンバーで内部に冷凍機が設置されています。サイクロトロン加速器からのビームラインが図左上に見えます。試料チャンバーの左側の箱が、光伝導測定用の光源と分光器です。
2.その場ＤＬＴＳ（Deep-Level Transient Spectroscopy）測定システム
その場DLTS測定装置は、物質・材料研究機構 材料研究所サイクロトロン加速器のビームラインに設置
されています。照射温度は20-400 Kの範囲で設定可能です。本加速器は17 MeV陽子線等の高エネルギー軽イオンビームを発生する。本装置は、軽イオン照射により試料中に発生する格子欠陥由来の深い準位を、試料を室温や空気にさらすことなくその場測定することができます。
