事業内容

先端計測技術入門コース(表面解析)

   

目的、対象者:
 NIMS が誇る世界最高水準の先端計測機器を活用し、最先端ナノ計測技術のエッセ ンスを習得する入門コースです。表面解析に関連した基礎的な知識・技術の習得 を目的とし講義と実習から構成される4回のコースを開設致します。各回ともに 、初日に表面解析技術の座学を受講して頂き、(A) 走査型プローブ顕微鏡による 原子分解能観察入門(B) 走査型オージェ顕微鏡による表面元素マッピング入門(C) ヘリウムイオン顕微鏡によるナノスケール表面観察と加工の3つのサブコ ースに分かれて、基礎的な講義と初歩的な実習を受講します。


募集人数:
サブコースA、B各回 3名程度。サブコースCは各回2名。


期間:
第 1 回 平成 30 年 5 月 22 日(火)~ 5 月 24日(木)
第 2 回 平成 30 年 8 月 7 日(火)~ 8 月 9 日 (木)
第 3 回 平成 30 年 11 月 6 日(火)~ 11 月 8 日(木)
第 4 回 平成 31 年 2 月 19 日(火)~ 2 月 21 日(木)

※受講希望の期間を上記の中から第3希望までお選び下さい。


会場:
物質・材料研究機構 千現地区


内容: 
1日目(共通) 表面解析の基礎(講義) 50分間×3コマ

2日目・3日目(サブコースを(A)~(C)から1つ選択)


Aコース

走査型プローブ顕微鏡による原子分解能観察入門

超高真空STM/AFMによる原子分解能観察に必要な基礎技術を習得。 STM/AFM探針の作製法、様々な試料調整法、原子分解能STM観察、トンネル分光法を学ぶ。測定試料については受講者の要望に合わせて決定(要事前相談)

Bコース

走査型オージェ顕微鏡による表面元素マッピング入門(二次元物質の評価)

表面の元素マッピングが可能で二次元物質の評価に有効な、オージェ電子顕微鏡(SAM)の基礎技術を習得。グラフェンの作製と評価を通して、オージェスペクトル解析や二次元物質の層数の決定法などを学ぶ。持ち込み試料の測定も可(要事前相談)

Cコース

ヘリウムイオン顕微鏡によるナノスケール表面観察と加工

電子顕微鏡(SEM)に代わる新しい顕微鏡技術として注目されているヘリウムイオン顕微鏡(日本に4台のみ)の基礎技術を習得。 SEMでは測定が難しい絶縁体や生体試料の観察、また、ガスデポジションによるナノ構造の作製を行う。持ち込み試料の測定も可(要事前相談)。

博士課程・若手研究者(※)の方はNanotech CUPALの育成者として認められると、受講料免除の他、旅費も支給されます。

(※)CUPAL事業 B機関大学(北大、東大、東工大、東理大、早大、京都工芸繊維、阪大、神戸大、立命館、同志社)に所属する博士課程学生・博士取得後10年以内、40歳未満の若手研究者

・高度な内容を学ぶ上級コースもあります。

・TEMコース、構造解析コースもありますので、伴せてご受講ください。

詳しくはWebまたはお問い合わせ下さい。


 

受講料:
CUPAL育成対象者 無料 (アライアンス内の博士課程(後期)学生および若手研究者を含む、旅費の補助を予定)
一般 学生 10,000円(予定)
大学等研究者 20,000円(予定)
その他 40,000円(予定)
 
 
連絡先:
物質・材料研究機構 CUPAL事務局
(nanotech_cupal=nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください)、電話:029-851-3354 ext. 3855)
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