第１回ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会
- 物質・材料研究のための先端ナノ計測技術をめざして -
(２００６年１０月２７日（金）　物質・材料研究機構千現地区　第１会議室)
ポスタープログラム

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極限計測技術

P-1
サブ10フェムト秒パルス光を用いた超高速電子･格子相互作用の計測

P-2
過度反射率測定および時間分解Ｘ線回折法を用いたコヒーレント光学フォノンの計測

P-3
金ナノ粒子配列体における表面増強ラマン：ラマン散乱および近接場顕微鏡による研究

P-4
ハイブリッド磁石による強磁場ＭＡＳ−ＮＭＲの開発

P-5
半導体用の動的核偏極技術の開発

P-6
強磁場固体ＮＭＲ用超伝導磁石の外部ＮＭＲロックによる磁場の安定化について

P-7
強磁場固体ＮＭＲによるメソポーラスなＢＮおよびＢＣＮの構造解析

P-8
（株）プローブ工房　発足



表面・表層ナノ計測技術

P-9
応力場環境走査型プローブ顕微鏡の開発と応用

P-10
表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製とSPM応用

P-11
低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面構造の観察

P-12
Si(100)表面の電子定在波

P-13
高分子膜の体積膨張に伴うストレス変化を利用した湿度センサー

P-14
STM Characterization of Single Luminescent Organic Molecule　on Metal Substrate

P-15
Scanning tunneling microscopy luminescence from nanoscale surface of n-type GaAs(110)

P-16
プローブ先端形状関数を用いたＡＦＭイメージの再構成法

P-17
マルチターゲットＸＰＳによる先端材料の３次元解析技術の開発

P-18
フィールドエミッション電子銃−波長分散型ＥＰＭＡ（ＦＥ−ＷＤＳ−ＥＰＭＡ）による広領域のサブミクロン微細組織の評価

P-19
電子線励起超軟Ｘ線分光分析装置の開発



先端電子顕微鏡計測技術

P-20
原子コラムイメージングのための電子顕微鏡要素技術の開発

P-21
TEMおよびHAADF-STEMを用いたTi(Pt,Ir)合金マルテンサイト相の結晶構造解析

P-22
高分解能電顕法による新規熱電変換層状コバルト酸化物[Sr2O2-ω]0.5CoO2の構造解析

P-23
ローレンツ電子顕微鏡によるLa1.2Sr1.8(Mn1-yRuy)2O7の磁区構造観察

P-24
透過型電子顕微鏡法によるC型反強磁性マンガン酸化物の軌道秩序相の観察

P-25
超高真空−収差補正ＳＴＥＭの開発

P-26
Ｘeイオン照射によるＳｉＴｉ０３双晶に生成した欠陥集合体の解析

P-27
酸化鉄還元ＴＥＭ内その場観察法

P-28
ＴＥＭ Characterizations on Radiation - induced Microstructural Evolutions in Yttria - stabilized Zirconia Irradiated with Xe Ions

P-29
Effeccts of annealing on the interfaces between diamond and metal layer

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