平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会
- 社会ニーズに対応した先端材料計測 -
(2009年11月26日(木) 物質・材料研究機構千現地区 第1会議室)
ポスタープログラム

極限計測技術

P-1
Investigation of excited states in inorganic/organic semiconductors

P-2
陽極酸化法を用いた半導体基板の表面微細加工

P-3
半導体における動的核偏極技術の開発

P-4
強磁場NMRのための磁場ゆらぎ補正機の開発

P-5
930MHz固体高分解能NMRの共同利用の動向

P-6
強磁場NMR用超伝導磁石の安定化とシム制御

P-7
11B MAS NMR によるボロシリケートガラスの構造解析



表面・表層ナノ計測技術

P-8
シリコン酸化超薄膜の高温還元分解過程のUHV-AFM/STM/AESその場計測

P-9
カンチレバーを利用した有機薄膜のヤング率測定

P-10
Si(111)表面における鉄原子の吸着と鉄シリサイドの形成

P-11
AFM像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較

P-12
Towards The Making Of 3 D Nano-Brain

P-13
Characterization of Few-Layer Graphene Films Grown on Carbon-Doped Metal Surfaces

P-14
Microtubule as a Universal Fourth Circuit Element

P-15
Characterization of Nanomaterials for Nanorisk Assessment

P-16
Influence of surface states on tunneling spectra of n-type GaAs(110) surfaces

P-17
The growth of Ag-nano filaments in the solid electrolyte films

P-18
Atomic-scale investigations of the CeO2(111) surface using AFM

P-19
非対称ボケ関数による時間空間における畳み込み条件の検討

P-20
放射光を用いたナノ結晶(銀-ポリジアセチレン)の電子構造解析 −表面プラズモン消失過程についての考察−

P-21
FEFFおよびWIEN2kによるSiとSiO2の光学定数計算

P-22
Optical constants of GaAs determined from reflection electron energy loss spectroscopy by factor analysis method



先端電子顕微鏡計測技術

P-23
走査透過電子顕微鏡による極微小領域での結晶構造解析

P-24
Possible origins of the magnetoresistance gain in colossal magnetoresistive oxide La0.69Ca0.31MnO3

P-25
高次元結晶学による巨大磁気抵抗マンガン酸化物の超構造の包括的解析

P-26
マイクロカロリメータ型TEM-EDXによる岩石構成鉱物の微小領域元素分析

P-27
高分解能共焦点STEMのための2軸傾斜ステージ走査システムの開発

P-28
Effect of Xe-implantation in Si3N4 ceramic at elevated temperature

P-29
高温イオン注入でSrTiO3結晶中に固体ナノXe析出物の生成

P-30
ウスタイトの還元に対する鉄欠損の影響

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