表面・表層ナノ計測技術

P-1
マイクロカンチレバーを用いた、薄膜のヤング率測

板倉明子、アンドレイ・グリネビッチ、戸田雅也

P-2
電界放射モードＳＴＭによるシリコン表面の観察

鷺坂恵介、藤田大介

P-3
ＡＦＭによるナノ粒子径の精密計測

大西桂子、藤田大介

P-4
Development and Applications of UHV-LT-STM for Tunnel-electron Induced Single Photon Detection

Guo Xinli, Daisuke Fujita

P-5
Surface standing waves on α-phase Cu-9%Al(111)

Yu Yinghui, Sagisaka Keisuke and Fujita Daisuke

P-6
Conductive Atomic-force Microscopy Study on n-ZnO Heterojunctions

Mingsheng Xu and Daisuke Fujita

P-7
フィールドエミッション電子銃-波長分散型EPMAによる鉛フリーはんだ接合境界の微視的評価

木村隆、福島整、田沼繁夫

P-8
電子線励起超軟Ｘ線分光装置による状態分析の可能性

木村隆、福島整、田沼繁夫、荻原俊弥

P-9
Ｘ線励起エネルギーの違いによるオージェスペクトルの形状変化

福島整、太田悟志

P-10
角度分解光電子分光における光電子生成時の多極子成分の評価

吉川英樹、荻原俊弥、木村隆、福島整、田沼繁夫

P-11
高エネルギーXPSスペクトルに対する励起プロファイル除去の試み

東義隆、福島整、田沼繁夫、太田悟志、伊藤嘉昭

極限ナノ計測技術

P-12
Ultrafast electron-phonon interaction in n- and p-type GaN

Kunie Ishioka, Keiko Kato, Masahiro Kitajima, Naoki Ohashi, Hajime Haneda, Hrvoje Petek

P-13
近接場光学顕微鏡による金ナノ粒子島状集合体の電場分布

島田透、M. K. Hossain、北島正弘、井村考平、岡本裕巳

P-14
多層カーボンナノチューブにおけるコヒーレントフォノンダイナミクス

加藤景子、石岡邦江、北島正弘、H.Petek、J. Tang

P-15
金属性化合物LaB6における時間領域Fano干渉の観測

加藤景子、石岡邦江、北島正弘、H.Petek

P-16
ボロンドープダイヤモンドの高分解能NMRによる研究

村上美和、清水禎、丹所正孝、高野義彦、石井聡、E.A.Ekimov、V.A.Sidorov、竹腰清乃理

P-17
生体分子の固体酸素17核磁気共鳴法の応用

山田和彦、清水禎、大木忍

P-18
ハイブリッド磁石による固体高分解能ＮＭＲの開発

端健二郎、清水禎、後藤敦、大木忍

P-19
半導体における動的核偏極技術の開発

後藤敦、清水禎、端健二郎、大木忍

P-20
固体高分解能ＮＭＲ用超伝導磁石の磁場安定化

品川秀行、藤戸輝昭、大木忍、清水禎

電子顕微鏡ナノ計測技術

P-21
STEM-EELSによる機能性先端材料の評価

木本浩司、石塚和夫、松井良夫

P-22
Ti50(IrxPt50-x)合金マルテンサイト相の周期構造のHAADF-STEM による観察

原徹、御手洗容子、奥西栄治

P-23
収束電子回折法によるビスマスマンガン酸化物の空間群決定

横澤忠洋、A. A. Belik、浅香透、木本浩司、室町英治、松井良夫

P-24
STEM-ADFによるTbBaMnOの定量評価

齋藤光浩、木本浩司、長井拓郎、石塚和夫、松井良夫、赤星大介、福島瞬、桑原英樹

P-25
Ba2FeMoO6における磁化のピン止め効果の直接観察

于秀珍、浅香透、富岡泰秀、長井拓郎、原徹、木本浩司、十倉好紀、松井良夫

P-26
Nd1-xSrxMnO3の反強磁性相境界に現れるツイード構造およびナノスケールドメイン

長尾全寛、浅香透、赤星大介、長井拓郎、山崎淳司、原徹、木本浩司、桑原英樹、松井良夫

P-27
共焦点STEMのための試料走査システムの開発

竹口雅樹、橋本綾子、三石和貴、下条雅幸、古屋一夫

P-28
GaN系デバイス材料のSTEMおよびTEMによる評価

奥野華子、竹口雅樹、色川芳宏、佐久間 芳樹、古屋一夫

P-29
電子線誘起蒸着によりSiO2基板上自己立つタングステンナノウィスカーの製作

宋　明暉、三石和貴、古屋一夫

P-30
炭素による酸化鉄還元における不純物効果のTEM内その場観察

石川信博、青柳岳史、木村隆、古屋一夫、原田嵩弘、稲見隆

P-31
Preparation of High-Quality TEM Specimens for Some Metals and Alloys via a Novel Integration of Chemical-Mechanical Polishing (CMP) with Wedge Polishing

XingJian GUO, Minghui SONG, Kazutaka MITSUISHI, and Kazuo FURUYA

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