産業技術総合研究所 微細構造解析プラットフォーム


「平成30年度 第1回地域セミナー」(10月5日)開催のお知らせ

【日時】2018年10月5日(金曜日)13:30 ~17:00

【場所】御茶ノ水ソラシティカンファレンスセンター 1F ROOM A
    〒101-0062  東京都千代田区神田駿河台4-6

【主催】国立研究開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
【共催】文部科学省 ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム

■参加費 無料

■定員 30名

■プログラム
 ー 先端計測分析技術であなたの研究開発をサポートします! ー

13:30 - 13:45 開会
概要説明 分析計測標準研究部門 
副研究部門長 齋藤 直昭
13:45 - 14:10 「陽電子プローブマイクロアナライザー」 分析計測標準研究部門 
主任研究員 O'Rourke Brian
14:10 - 14:35 「超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置」 ナノエレクトロニクス研究部門 
主任研究員 志岐 成友
14:35 - 15:00 「極端紫外光光電子分光装置」 ナノエレクトロニクス研究部門 
招聘研究員 松林 信行
15:00 - 15:25 「超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡」 ナノエレクトロニクス研究部門 
研究員 藤井 剛
15:25 - 15:35 休憩  
15:35 - 16:00 「可視-近赤外過渡吸収分光計測装置」 分析計測標準研究部門 
研究員 細貝 拓也
16:00 - 16:25 「リアル表面プローブ顕微鏡」 分析計測標準研究部門 
主任研究員 井藤 浩志
16:25 - 16:50 「固体NMR装置」 物質計測標準研究部門 
テクニカルスタッフ 林 繁信
16:50 - 17:00 閉会  

【問い合わせ先】 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
   E-mail : ancf-info-ml[at]aist.go.jp Tel:029-861-5300
   ホームページ:https://unit.aist.go.jp/rima/nanotech/ancf03-ib.html

【参考ファイル】
   pdf