TEMユーザーズミーティング(12/08)


東京大学細構造解析プラットフォーム



【日時】2017年12月8日(金)10:00~18:00

【場所】東京大学 浅野キャンパス 工学部 武田先端知ビル 5階 武田ホール
〒113-8656 東京都文区弥生 2-11-16
TEL03-3812-8524 ( 東京大学 ・日本電子産連携室 連携室 )

【プログラム】

  9:30~10:00 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:30
 
高感度カメラと新機能を搭載したJEM-1400Flashの紹介
日本電子株式会社 EM事業ユニット 濱元 千絵子
10:30~10:50
 
最新の自動収差補正システムを搭載した電子顕微鏡 NEOARMの紹介
日本電子株式会社 EM事業ユニット 橋口 裕樹
11:10~11:30
 
最新FIB-SEM マルチビームシステム JIB-4700F の紹介
日本電子株式会社 IB事業ユニット 門井 美純
11:30~13:10 昼食・装置/ ポスター展示セッション
13:10~14:00
 
原子分解能STEMの進展と材料科学への応用
東京大学大学院 工学系研究科 幾原 雄一 様
14:00~14:10 休憩
14:10~14:40
 
分析電子顕微鏡とプリセッション電子回析を用いた材料解析
株式会社東レリサーチセンター 久留島 康輔 様
14:40~15:00
 
高速ピクセル型STEM検出器の開発とその応用
日本電子株式会社 EM事業ユニット 佐川 隆亮
15:00~15:30 休憩・装置/ ポスター展示セッション
15:30~16:10
 
強度輸送方程式による電子波位相の定量計測とその応用
国立研究開発法人 物質・材料研究機構 三留 正則 様
16:10~16:50
 
 
ソフトマテリアル電子顕微鏡観察におけるコントラスト増強と3次元その場観察へ向けての取り組み
東北大学 多元物質科学研究所 陣内 浩司 様
16:50~17:00 閉会挨拶
17:00~18:00 懇親会

【参加費】無料

【申込締切】2017年 11 月 30 日 (木) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。

【お申し込み方法】お申込みはこちらから
諸般の事情でWEBのお申し込みが出来ない場合は、こちらのFAX用お申し込み紙(PDF: 881KB)でお申し込みを願い致ます。

【連絡先】
日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
jeolum[at]jeol.co.jp
TEL:06-6262-3560・FAX:03-6262-3577

【参考ファイル】
pdf