産業技術総合研究所 微細構造解析PF H29年度第2回地域セミナー

主催:
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)

共催:
文部科学省 ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム

【日時】2017年11月22日(水)13:30~17:00

【場所】JST東京本部 別館(K’s五番町) 2階セミナー室
    〒102-0076 東京都千代田区五番町7 K's五番町

【プログラム】
13:30 – 13:45 開会挨拶     分析計測標準研究部門 研究部門長 野中秀彦
        概要説明     分析計測標準研究部門 副研究部門長 齋藤直昭
13:45 – 14:10 「陽電子プローブマイクロアナライザー装置」
               分析計測標準研究部門 主任研究員 O'Rourke Brian
14:10 – 14:35 「超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置」
               分析計測標準研究部門 研究主幹 松林信行
14:35 – 15:00 「極端紫外光光電子分光装置」
               ナノエレクトロニクス研究部門 テクニカルスタッフ 石塚知明
15:00 – 15:25 「超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡装置」
               ナノエレクトロニクス研究部門 グループリーダー 浮辺雅宏
15:25 – 15:35   休憩

15:35 – 16:00 「可視-近赤外過渡吸収分光装置」
               分析計測標準研究部門 主任研究員 松崎弘幸      
16:00 – 16:25 「リアル表面プローブ顕微鏡装置」
               分析計測標準研究部門 主任研究員 井藤浩志
16:25 – 16:50 「固体NMR装置」
               物質計測標準研究部門 招聘研究員 林繁信
16:50 – 17:00 質疑応答・閉会        

【参加費】無料

【定 員】30名

【参加申し込み】
 詳細は、下記のANCFのイベントページをご参照ください。
     https://unit.aist.go.jp/rima/nanotech/ancf03-ib.html 

【お問い合わせ先】
 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
     E-mail : ancf-info-ml[at]aist.go.jp Tel:029-861-5300

【参考ファイル】
pdf