4D-STEM セミナー(11/20)


~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~




来る11月20日(月)、「4D-STEMセミナー ~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~」を開催することになりました。 ご興味のある方は是非ご参加ください。

【開催日時】     11月20日(月) 10:30~17:10(受付10:00~)

【セミナー場所】物質・材料研究機構(NIMS)千現地区 第1会議室
        〒305-0047 つくば市千現1-2-1
     ※ 物質・材料研究機構までのアクセス / 入構手続きのご案内は以下をご覧ください。
      http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html

【ラボツアー】物質・材料研究機構千現地区 JEM-ARM200F
        (ラボツアーは定員最大30名といたします)
        ※定員の30名を超えた場合、抽選となりますのでご了承ください。

【意見交換会】17:30-19:00

【参加費】無料 (意見交換会:1,500円) ※参加には事前登録が必要になります。

【参加申し込み】参加申し込みは下記よりお願いします。
        https://ssl.form-mailer.jp/fms/12356394537449

【主催】 NIMS微細構造解析PF、NIMS電子顕微鏡ステーション

【プログラム案(敬称略)】
10:30~11:15    物質・材料研究機構 木本浩司
                        原子コラム分解能を有する4D-STEM:原理実証から材料応用へ
11:15~12:00    東北大学 津田健治
                        STEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析
12:00~13:00    昼休み

13:00~13:45    東京大学 柴田直哉
                        高速分割型検出器を用いたDPC STEM法の現状と展望
13:45~14:20    日本電子株式会社 佐川隆亮
                        ピクセル型STEM検出器4DCanvasの開発とその応用
14:20~14:55    Gatan 伊野家浩司
                        Gatan社製TEM用カメラを使用した高速4D-STEMシステム、STEMx
14:55~15:10    休憩

15:10~16:00    ラボツアー

16:00~16:35    Thermo Fisher Scientific Alex Bright
                        EMPAD: An Ultra High Dynamic Range Pixelated Array Detector for
                        Diffraction Imaging and 4D-STEM (日本語講演)
16:35~17:10    東レリサーチセンター 久留島康輔
                        多分割検出器およびプリセッション電子回折を用いた評価事例
17:30~19:00    意見交換会 於NIMS食堂

【イベント詳細】
                        http://www.nims.go.jp/tem/news/20171017_001.html

【お問い合わせ】電子顕微鏡ステーション事務局
                        E-mail:tem[at]nims.go.jp
                        TEL:029-859-2150

【参考ファイル】
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