※※中止※※ AIST,NIMS 合同セミナー(9/11)


集束イオンビーム加工観察装置と透過電子顕微鏡の基礎とノウハウ



産業技術総合研究所ナノプロセシング施設(NPF)と物質・材料研究機構微細構造解析プラットフォームは、集束イオンビーム加工観察装置(FIB)と透過電子顕微鏡(TEM)の基礎に関するセミナーを開催いたします。
本セミナーでは、FIBの基礎と微細加工、及びTEMの基礎と構造解析について、基礎とノウハウを、様々な事例を紹介しながら解説します。
集束イオンビームによる微細加工技術や透過電子顕微鏡による構造解析技術にご興味をお持ちの方、利用初心者や経験者ともに対象としておりますので、奮っての御参加をお待ちしています。

【日時】2017年9月11日(月)10:00-12:10

【場所】産業技術総合研究所 つくば中央2-12棟 第6会議室
    http://www.aist.go.jp/aist_j/guidemap/tsukuba/center/tsukuba_map_c.html

【参加費】無料

【定員】80 名(先着順、参加登録をお願いします)

【セミナー案内/申し込み】
    https://ssl.open-innovation.jp/npf/training/h29-2/index.html

【講演プログラム】

10:00-10:10 「挨拶」 産総研共用施設ステーション 多田哲也
                                物質・材料研究機構 竹口雅樹

10:10-11:10 「TEMの基礎と構造解析」物質・材料研究機構 上杉文彦

11:10-12:10 「FIBの基礎と加工例」産総研NPF 飯竹昌則

【参考ファイル】
pdf