並木地区
超伝導セラミクス棟 101室
分析電子顕微鏡(JEOL : JEM-2010F)
(共通装置として構造材料研究センターと管理)


・加速電圧:200kV

・付属装置:
 EDS: JEOL JTD-2300プレミアム
         エネルギー分解能 130eV以下
 STEMを併用したマッピング(スペクトラムイメージング)が可能。
 EELS: Gatan GIF-2002A

・その他:
  JEOL STEM-BF、STEM-HAADF検出器
  Gatan BF/DF 検出器 DigiScan
  Gatan ES500W CCD カメラ
  Gatan EELS compatible TV-rate CCD カメラ
  液体窒素二軸傾斜ホルダ、分析(Be)二軸ホルダ
  イメージングプレート
  鉄鋼材料(磁性体試料)観察に適するよう改造

・導入年度:1999年度