球面収差補正透過電子顕微鏡
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その他の装置
- 下記の装置群についても、電子顕微鏡グループおよび電子顕微鏡解析ステーション・高分解能グループにご相談ください。
- 集束イオンビーム(FIB)装置: FB-2000s (Hitachi High-Tech)
- 30 kV, マイクロサンプリング
- イオン研磨装置: PIPS II (Gatan)
- 5 kV, CCDカメラ付属, 試料冷却機能付
- 卓上SEM: TM4000 Plus II (Hitachi High-Tech)
- 20 kV - 5 kV
- カーボン膜蒸着装置: VES-30T (真空デバイス)
- TMP排気方式、卓上型
- その他、各種機械研磨装置などを運用しています